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主營：直讀光譜儀 ICP光譜儀 ICPMS 碳硫分析儀 氧氮分析儀
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直讀光譜儀
干擾效應。 干擾效應也稱基體效應，又稱共存元素、第三元素或伴隨物效應，指的是在樣品中除了分析物外所有其他成分的影響，在光譜分析中能引起譜線的強度變化，導致分析結果產生一些誤差，這種干擾效應是光譜分析中需要高度重視的一個問題。
分析試樣和標樣影響。 在實際工作中，分析試樣和標樣的冶煉過程和物理狀態存在一定的差異，所以導致校準曲線經常出現變化，一般情況下標樣大多處于鍛造和軋制狀態，分析樣品大多處于澆鑄狀態，為有效防止試樣的冶金狀態變化影響檢測分析的結果，直讀火花光譜儀價格，經常使用的控制試樣要保證與分析試樣的冶金過程和物理狀態保持一致，對試樣的分析結果進行準確的控制。
操作火花直讀光譜儀時應注意要點
數據處理操作
①、分析數據，一律以標鋼含量為準，以控制標鋼的正負偏差為準。
②、數據的選擇和取舍要穩重，要考慮多方面的因素，如鐵值的變化，其它元素的變化，插入鋁量，激
發斑點、激發聲音等，有時需要重磨試樣分析驗證，有時候需要多次激發來驗證。在驗證分析試樣的時
間，也要激發接近含量的標鋼，以便證明儀器是在正常的工作狀態。
③、如果標鋼加減量太大時，必須進行標準化，校正各元素的工作曲線。
④、處理數據要注意正號，負號，不要加減錯誤和看錯小數點。
光電光譜分析選用的分析線，必需符合下列要求
直讀光譜分析時，一般都采用內標法。因內標法進行分析時常采用多條分析線和一條內標線組成，常用試料中的基體元素為內標元素。組成的線對要求均稱，山東直讀火花光譜儀，就是當激發光源有波動時，兩條線對的譜線強度雖有變化，但強度比或相對強度能保持不變。
如R表示強度比即
R=I1/I0
I1為分析線的強度，Io為內標線強度，直讀火花光譜儀廠家，表明I1和Io同時變，而R則不受影響。R與含量C之間有線性關系。
在光電直讀光譜分析時，有很多分析通道，要安裝許多內標通道有困難，因此采用一個內標線。但有人認為再要提高光電光譜分析的準確度還得采用不同的內標線，這還有待于光電轉換元件的小型化來解決。
光電法時，有時還用內標線來控制曝光量，稱為自動曝光，也就是樣品在曝光時，分析線和內標分別向各自積分電容充電，當內標線的積分電容器充電達到某一預定的電壓時，直讀火花光譜儀價格，自動截止曝光。此時分析線的積分電容器充電達到的電壓即代表分析線的強度I，并且亦即代表分析線的強度比R(因為R=I1/Io，而此時Io保持常數)這個強度I或強度比R就由測光讀數所表示。
現在一般采用計時曝光法較為普遍。
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